節(jié)能高低溫濕熱綜合試驗箱根據(jù)試驗方法與行業(yè)標準可分為交變試驗、恒溫試驗，兩種試驗方法都是在高低溫試驗箱的基礎上進行升級拓展，高低溫試驗箱是指可以一次性將需要做的高溫、低溫以及所需做的溫度的時間設定在儀表參數(shù)內(nèi)，試驗箱會按照設定走程序，高低溫試驗箱就是在做一個固定的溫度，使試驗效果更接近自然氣候，模擬出更惡劣的自然氣候，從而使被測樣品的可靠性更高。

高低溫試驗箱內(nèi)箱容量包括80L、100L、150L、225L、408L、800L、1000L、2000L、3000L、4000L、5000L等

節(jié)能高低溫濕熱綜合試驗箱加熱體系：測試箱的加熱體系相對制冷體系而言比較簡單，因設備請求升溫速率大所以加熱體系功率也較大且底板設有加熱器。

傳感器體系：高低溫試驗箱的傳感器主要是溫度和濕度傳感器。溫度傳感器使用較多的，是鉑電組和熱電偶，濕度的丈量方法有兩種：干濕球溫度計法和固態(tài)電子式傳感器直接丈量法。因干濕球法丈量精度不高所以現(xiàn)今正逐漸的以固態(tài)傳感器替代干濕球來進行濕度的丈量。

執(zhí)行對象:制冷電磁閥(含主回路和卸載旁路)當設定溫度低過設備所處的環(huán)境溫度時，系統(tǒng)判斷，箱內(nèi)要達到低過環(huán)境溫度的低溫，需要開啟制冷來平衡溫度。制冷系統(tǒng)回路通過 PID 控制，無級調(diào)節(jié)制冷輸出比例（0～100%），最終把實測溫度精確控制在需要的設定溫度點。系統(tǒng)安全運行保障：當 PID 調(diào)節(jié)制冷主回路輸出比例很小（0～20%）時，由于制冷主回路流量少，會導致系統(tǒng)回氣壓力過低時，可能導致壓縮機回油不暢或負壓運行，長時間會導致壓縮機損毀；因而我們設計了自動補償回路，提高系統(tǒng)運行的可靠性，當系統(tǒng)回氣壓力低于設定值時自動開啟熱氣和冷液補償回路，確保系統(tǒng)安全穩(wěn)定運行。

環(huán)境條件的可重復性高低溫交變濕熱試驗箱可能用于同一類型產(chǎn)品的多次試驗，而一臺被試的工程產(chǎn)品也可能在不同的環(huán)境試驗設備中進行試驗，為了保證同一臺產(chǎn)品在同一試驗規(guī)范所規(guī)定的環(huán)境試驗條件下所得試驗結(jié)果的可比較性，必然要求環(huán)境試驗設備所提供的環(huán)境條件具有可重復性。這也就是說，環(huán)境試驗設備施用于被試驗產(chǎn)品的應力水平（如熱應力、振動應力、電應力等）對于同一試驗規(guī)范的要求是一致的。

高低溫濕熱試驗箱：符合國際性規(guī)范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以達到國際間量測程序一致性(含測試步驟、條件、方法)避免認知不同，并縮小量測不確定的因素范圍發(fā)生，平衡調(diào)溫調(diào)濕控制系統(tǒng)(BTHC),以P.I.D.方式控制SSR,使系統(tǒng)之加熱加濕量等于熱濕損耗量,故能長期穩(wěn)定使用.溫濕度控制精確，升降溫速度快速、平穩(wěn)、均勻，為使用者節(jié)約寶貴時間。視野寬廣的觀測窗：長方形觀測窗，采用螢光燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式玻璃，無須雨刷除霧，隨時保持清晰的觀測試驗箱內(nèi)的狀況。

交互式濕熱試驗箱滿足標準：

1. GB11158 高溫試驗箱技術(shù)條件

2. GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件

3. GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件

4. GB/T10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件

5. GB/T2423.1-2001 低溫試驗箱試驗方法

6. GB/T2423.2-2001 高溫試驗箱試驗方法

7. GB/T2423.3-93 濕熱試驗箱試驗方法

8. GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗方法

9. GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗方法

10. IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法

11. IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法

12. GJB150.3 高溫試驗

13. GJB150.4 低溫試驗

14. GJB150.9 濕熱試驗

廣東德瑞檢測設備有限公司有多年的環(huán)境試驗設備制造經(jīng)驗，滿足客戶對模擬各種環(huán)境的要求，所有產(chǎn)品皆可按照客戶要求而加以制造，并提供符合國際規(guī)范的可靠度檢測設備。高低溫試驗箱適用于電工、電子產(chǎn)品整機及零部件進行耐寒試驗、溫度快速變化或漸變條件下的適應性試驗。特別適用于進行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應力篩選(ESS)試驗。該設備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫速變的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。