可編程高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)方法與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)可分為交變?cè)囼?yàn)、恒溫試驗(yàn)，兩種試驗(yàn)方法都是在高低溫試驗(yàn)箱的基礎(chǔ)上進(jìn)行升級(jí)拓展，高低溫試驗(yàn)箱是指可以一次性將需要做的高溫、低溫以及所需做的溫度的時(shí)間設(shè)定在儀表參數(shù)內(nèi)，試驗(yàn)箱會(huì)按照設(shè)定走程序，高低溫試驗(yàn)箱就是在做一個(gè)固定的溫度，使試驗(yàn)效果更接近自然氣候，模擬出更惡劣的自然氣候，從而使被測(cè)樣品的可靠性更高。

高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)箱容量包括80L、100L、150L、225L、408L、800L、1000L、2000L、3000L、4000L、5000L等

可編程高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)

1．GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

2. GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3. GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

4. GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

5. GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

6. GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

7. GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程

線(xiàn)性和非線(xiàn)性節(jié)能高低溫試驗(yàn)箱不同的升溫速率，線(xiàn)性快速溫變?cè)囼?yàn)箱溫度的升溫速率(實(shí)際上是第 5分鐘內(nèi)的平均速度)。事實(shí)上，對(duì)于溫度變化較快的試驗(yàn)箱來(lái)說(shuō)，保持線(xiàn)性升溫速率是最困難的。最關(guān)鍵的是下降速度的最后 5 分鐘，這是測(cè)試室可以達(dá)到的冷卻速度。

相關(guān)規(guī)范規(guī)定了試驗(yàn)后的樣品是在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下恢復(fù)還是在特定條件下恢復(fù)。如需在特定條件下恢復(fù)樣品，應(yīng)將樣品移至另一個(gè)可程式恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備或仍留在原試驗(yàn)設(shè)備中。如果需要將樣品轉(zhuǎn)移到另一個(gè)試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行恢復(fù)，則轉(zhuǎn)移樣品的時(shí)間應(yīng)盡可能短。如果將其留在試驗(yàn)設(shè)備中進(jìn)行恢復(fù)，則相對(duì)濕度應(yīng)降低至 73% 至 77%。然后在0.5h內(nèi)將溫度調(diào)至實(shí)驗(yàn)室溫度，溫度公差為+1K。根據(jù)相關(guān)規(guī)范，恢復(fù)時(shí)間應(yīng)從滿(mǎn)足恢復(fù)條件時(shí)開(kāi)始計(jì)算。

可程式交變濕熱環(huán)境試驗(yàn)箱長(zhǎng)期不使用會(huì)影響系統(tǒng)的有效使用壽命。因此，系統(tǒng)應(yīng)至少每 10 天開(kāi)機(jī)運(yùn)行一次;不要在短時(shí)間內(nèi)反復(fù)停止系統(tǒng)，每小時(shí)啟動(dòng)一次。啟動(dòng)次數(shù)應(yīng)小于每小時(shí)5次，每次啟動(dòng)與停止的時(shí)間間隔不應(yīng)小于3rain;請(qǐng)勿在低溫下打開(kāi)步入式溫濕度測(cè)試系統(tǒng)的門(mén)，以防損壞門(mén)密封帶。