電子設(shè)備檢測高低溫試驗箱
簡要描述:電子設(shè)備檢測高低溫試驗箱根據(jù)試驗方法與行業(yè)標準可分為交變試驗、恒溫試驗,兩種試驗方法都是在雙85試驗箱的基礎(chǔ)上進行升級拓展,雙85試驗箱提供高溫、低溫、高溫、低溫的環(huán)境,主要用與光伏行業(yè),及太陽能行業(yè)的 測試設(shè)備,用于測試光伏組件,主要是單晶硅組件,地面用晶體硅光伏組件,地面用薄膜光伏組件等一系列的光伏組件進行試驗可以再現(xiàn)環(huán)境所產(chǎn)生的破壞。
- 產(chǎn)品型號:
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時間:2024-10-12
- 訪 問 量:368
電子設(shè)備檢測高低溫試驗箱
1.1、試驗箱外殼由SUS304B制造;
1.2、試驗箱試驗空間為不銹鋼,采用不漏氣焊接工藝制造。試驗箱試驗空間備有樣品架支撐擱架,適合插入樣品架,且高度可調(diào)節(jié)。
1.3、試驗箱試驗空間與試驗箱門之間為雙層硅樹脂橡膠襯墊,可有效增強試驗箱在正常工作時的氣密性。
1.4、采用緊密的礦物棉隔離試驗箱外殼與試驗箱試驗空間,達到*的熱量損失。
1.5、所有高低溫試驗箱和高低溫濕熱試驗箱均配備一個位于左側(cè)直徑為50mm的引線孔。
1.6、試驗箱試驗空間內(nèi)配備一個或二個(依照試驗空間容積)軸流風扇,軸流風扇循環(huán)試驗箱試驗空間空氣,提供*的溫度一致性和穩(wěn)定性。
內(nèi)箱容量包括80L、100L、150L、225L、408L、800L、1000L、2000L、3000L、4000L、5000L等
電子設(shè)備檢測高低溫試驗箱符合標準:
符合“環(huán)境試驗設(shè)備技術(shù)條件"系列標準中的:
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2423.3-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱 (12h+12h循環(huán))
GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化
GB/T 2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗
GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗
GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
快速變溫高低溫濕熱試驗箱適用產(chǎn)品零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗其可靠性各項性能指標的儀器設(shè)備。高溫時可測試產(chǎn)品零件、材料可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象(如:填充物和密封條軟化或融化、電子電路穩(wěn)定性下降,絕緣損壞、加速高分子材料和絕緣材料老化等);在低溫時可測試產(chǎn)品零件、材料可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象(如:材料發(fā)硬變脆、電子元器件性能發(fā)生變化、水冷凝結(jié)冰、材料收縮造成機械結(jié)構(gòu)變化等)。
廣東德瑞檢測設(shè)備限公司是一家專業(yè)致力于試驗儀器設(shè)備研發(fā)、銷售為一體的企業(yè),公司位于交通便利、工業(yè)繁華的東莞市。自成立以來認真精細地完善每一步檢驗程序,嚴格要求產(chǎn)品的每一步工藝流程,追求品質(zhì)。依托企業(yè)自身的人才、技術(shù)、資金為科研、電子、汽車、石油、化工、醫(yī)療、通訊、各大院校等企事業(yè)單位,提供符合GB、GJB、IEC、MIL、DIN等標準的各類試驗設(shè)備及檢測儀器,并可根據(jù)用戶的需求設(shè)計制造各類非標專業(yè)性設(shè)備。
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